Каталог

Сканирующие акустические микроскопы

Сканирующие акустические микроскопы (SAM) используют ультразвуковые волны для проведения неразрушающего контроля поверхности и внутренней структуры образца. Итоговое изображение, полученное с помощью данной технологии используется для поиска таких дефектов, как трещины, пустоты и расслоения. Данный метод является альтернативой рентгеновскому контролю и активно используется при производстве силовых модулей и изделий микроэлектроники.

Ультразвуковой акустический микроскоп

Звуковая волна распространяется прямолинейно в исследуемом образце. При наличии границы раздела между различными материалами в толще анализируемого образца (например пустотами, расслоениями или включениями другого материала)...